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概 述
WD系列低溫試驗箱：
適用于按GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法》進行的產(chǎn)品低溫試驗。也能用于產(chǎn)品的低溫貯藏、金屬的低溫處理。
WGD系列高低溫試驗箱：
適用于按GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法；試驗B：高溫試驗方法》進行的產(chǎn)品高低溫轉(zhuǎn)換試驗，或低溫試驗，或高溫試驗。
性能特點：
● 溫度控制范圍寬，既可做低溫試驗，也可做高溫試驗，其中高低溫還可做高低溫轉(zhuǎn)換試驗。一臺多用，
提高了試驗箱的利用率。
● 采用高性能的進口數(shù)控儀表，按PID規(guī)律控制能量平衡，使控溫精度高，試驗溫度穩(wěn)定。
● 試驗箱按設(shè)置的試驗溫度，自動選擇高溫試驗或低溫試驗，操作非常方便。
● 試驗溫度采用鍵盤設(shè)置，設(shè)置簡單易行。儀表具有偏差修正功能，可按標準表的讀數(shù)進行校正，提高測
溫精度。
● 試驗箱裝有照明燈和透視窗，可觀察試件的受試狀態(tài)。
● 采用全封閉制冷壓縮機（進口）和風(fēng)冷凝器，重量輕、移動方便。
技術(shù)參數(shù)
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低溫箱 |
型 號 |
WD602 |
WD604 |
WD610 |
WD802 |
WD804 |
WD810 |
WD1002 |
WD1004 |
WD1010 |
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容 積m3 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
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溫度范圍 |
-60～+90℃ |
-80～+90℃ |
-100～+90℃ |
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降溫時間 |
室溫～-60℃，
≤60min
（空載） |
室溫～-80℃，
≤70min
（空載） |
室溫～-100℃，
≤100min
（空載） |
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高低
溫箱 |
型 號 |
WGD402 |
WGD404 |
WGD410 |
WGD602 |
WGD604 |
WGD610 |
WGD802 |
WGD804 |
WGD810 |
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容 積m3 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
0.2 |
0.4 |
1.0 |
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溫度范圍 |
-40～+150℃ |
-60～+150℃ |
-80～+150℃ |
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降溫時間 |
室溫～-40℃，≤45min
（空載） |
室溫～-60℃，≤60min
（空載） |
室溫～-80℃，≤90min
（空載） |
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溫度指標 |
波動度：±0.5℃；均勻度：≤2℃ |
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溫度控制 |
采用日本RKC數(shù)顯溫控儀（選配記錄儀），進行能量平衡調(diào)溫（BTC） |
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制冷方式 |
全封閉制冷壓縮機（進口），單級或復(fù)疊，冷凝器為風(fēng)冷 |
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供電電源 |
三相380V或 單相220V 50Hz |
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安全裝置 |
具有缺相、短路、過載、超溫、超壓等保護功能 |
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配 件 |
觀察窗尺寸：225mm×320mm 1個；擱板：2個；電線孔：φ25或φ50 1個 |
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工作室尺寸 |
0.2m3：500（D）×600（W）×680（H）；
0.4m3：680（D）×720（W）×820（H）；
1.0m3：980（D）×980（W）×1050（H） |
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外形尺寸 |
0.2m3：950×1150×1650；
0.4m3：1170×1280×1840；
1.0m3：1460×1500×2050 |
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滿足標準 |
滿足GB/T2423.1、2標準、IEC標準、MIL標準的要求 |
以上技術(shù)參數(shù)如有改動，恕不另行通知。
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